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加圧テストの英語
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「加圧テスト」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 164件
このテスト用プローブP1〜P6の全部に、環状電極L1よりテスト用の電圧を印加する。例文帳に追加
A voltage for tests is impressed on all of the probes P1-P6 for tests from a ring-shaped electrode L1. - 特許庁
半導体素子をテストボードのテストソケットに接続させるためにテストトレイに適正な圧力を加えることができるハンドラを提供する。例文帳に追加
To provide a handler which applies a proper pressure to a test tray so as to connect a semiconductor element to a test socket of a test board. - 特許庁
テスト電圧印加部2は、種々の電圧レベルのテスト電圧Vtを対応する読み出し信号線VSLに印加する。例文帳に追加
The test voltage applying portion 2 applies test voltage Vt of various voltage levels on a corresponding read-out signal line VSL. - 特許庁
ピンX0に高電圧が印加されると、テストモードに入る。例文帳に追加
When high voltage is applied to the pin X0, a test mode is started. - 特許庁
高電圧印加部分についての効率的なテストを可能にする昇圧回路等の提供。例文帳に追加
To provide a booster circuit efficiently testing a section applied with high voltage. - 特許庁
製造条件、電源電圧値、使用温度のばらつきに対し、テスト工数、テスト時間の増加要因を除去するとともに歩留まりを向上する。例文帳に追加
To eliminate factors of increase in test man-hours and a test time against dispersion in manufacturing conditions, a power supply voltage, and an operating temperature and to enhance the yield. - 特許庁
本発明のホイールリークテスト装置は、ホイールを保持するホイール保持部、1対のシール治具、加圧部、リークテスト部を備える。例文帳に追加
A wheel leak test device includes a wheel holding part for holding a wheel, a pair of sealing tools, a pressurizing part, and a leak test section. - 特許庁
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「加圧テスト」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 164件
テストモード時に印加するテスト用電源電圧だけでモード選択と内部回路の動作限界評価を可能にする。例文帳に追加
To select a mode and to evaluate the limit of the operation of an internal circuit only with a testing source voltage applied in test mode. - 特許庁
電気回路構成は、ボンド・パッド延長部のテスト・パッドにテスト電圧が印加されたときにそのことを自動的に検出し、その後、印加されたテスト電圧の検出に応答してボンド・パッド延長部のテスト・パッドを接続する。例文帳に追加
An electric circuit arrangement automatically detects when a test voltage is applied to the test pad of the bond pad extension, then connects the test pad of the bond pad extension in response to the detection of the applied test voltage. - 特許庁
半導体集積回路100は、パワーアンプ15と、パワーアンプ15の異常発熱を検知してパワーアンプ15を保護する熱保護回路と、テスト電圧を印加するテスト端子を有し、テスト電圧に応じて熱保護回路の動作テストを行うテスト回路10と、制御電圧を印加する制御端子を有し、制御電圧に応じて内部回路の制御を行う制御回路16と、を備える。例文帳に追加
The semiconductor integrated circuit 100 includes a power amplifier 15, the thermal protection circuit sensing an abnormal heating of the power amplifier 15 and protecting the power amplifier 15, a test circuit 10 having a test terminal for applying a test voltage and performing the operation test of the thermal protection circuit according to the test voltage, and a control circuit 16 having a control terminal for applying a control voltage and performing a control on an internal circuit according to the control voltage. - 特許庁
また、テスト時は、テスト回路19のテストスイッチ17をオンすると、電圧線3の電圧が直接、分圧回路8の分圧抵抗9、10、11に印加されて、分圧抵抗11の両端電圧が上昇し検出回路12が出力する。例文帳に追加
In testing, when a test switch 17 in a test circuit 19 is turned on, a voltage of a voltage line 3 is directly applied to voltage-dividing resistors 9, 10, 11 in a voltage-dividing circuit 8, the voltage across the voltage-dividing resistor 11 is raised, and the detection circuit 12 delivers an output. - 特許庁
テスト信号選択用のモードデコーダを設けなくて済んでテスト回路を簡略化することができるとともに、テスト回路のためのチップ面積の増加を最小限に抑えることができるヒステリシス電圧幅測定用のテスト回路およびそのヒステリシス電圧幅の測定方法を提供する。例文帳に追加
To provide a test circuit for hysteresis voltage width measurement and a measuring method of the hysteresis voltage width capable of simplifying the test circuit by dispensing with installation of a mode decoder for test signal selection, and suppressing to the minimum the increase of a chip area for the test circuit. - 特許庁
電圧加速テストを行うベンダテストモードがエントリされるとベンダテスト回路から降圧電源回路15,16にローレベルのテスト信号TM1が入力され、トランジスタ19がONし、演算増幅器としての動作が停止となる。例文帳に追加
When a bender test mode conducting a voltage acceleration test is entered, a test signal TM1 at a low level is input to step-down power circuits 15, 16 from a bender test circuit, a transistor 19 is turned on, and operation as an operational amplifier is stopped. - 特許庁
上記ワークは、上記リークテストに先立って、加圧ヘリウム環境のタンクに数時間収容される。例文帳に追加
The works are put in a tank in a pressurized helium environment for several hours prior to leakage tests. - 特許庁
HDD1に対するリーク・テスト時に、外気孔20から例えば加圧気体を供給する。例文帳に追加
For example, pressurized gas is supplied from the outdoor air port 20 in a leak test to an HDD1. - 特許庁
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